お疲れ様です。開発を担当している森です。

毎年、様々な展示会に出向き情報収集を行っているのですが、今年はそれだけでは物足りず？学会にも参加しています。今回は6月と8月の学会について簡単にお話いたします。

　3月 「第67回 航空原動機・宇宙推進講演会」　長良川国際会議場
　5月 「第59回 質量分析総合討論会」　つくば国際会議場
　6月 「日本顕微鏡学会 第75回学術講演会」　名古屋国際会議場
　8月 「Microscopy & Microanalysis 2019」　Oregon Convention Center

6月の日本顕微鏡学会では、金属、半導体、磁性体、ナノ材料、細胞、微生物、分析手法など、各分野から400件以上の口頭発表、ポスター発表がありました（質量分析学会よりも規模は大きいかもしれません）。ここでは8月のM&Mを有意義なものにするためにも、国内だけでなく海外メーカーの方にも色々とお話を伺いました。発表で興味があったのはFIB-SEMです。FIB（Focused Ion Beam）とは集束イオンビームのことです。Ga液体金属イオン源からのイオンビームによって、ナノスケールで試料を加工し、断面の観察ができる装置であり、複数の断面を再構築して、試料の3次元解析も可能です。最近ではXeプラズマを用いたものがあるそうで、Gaに比べ高速、広範囲、高面積の加工が可能とのことです。また、ユーザーや技術者が普段抱えている問題をテーマに、ざっくばらんに意見を出し合う場もあり参加したのですが、これは軽食と多少のお酒も入るためか活発な議論が展開されていて、とても面白い企画だなと思いました。

8月のMicroscopy & Microanalysis（M&M）は、オレゴン州のポートランドで開催されました。私事ですが昨年のASMSでは、サンフランシスコの入国審査で大変な目にあったので今回も心配していたのですが、全く問題なくスムーズでした（大変な目にあったのは、単に私の準備不足が原因です）。M&Mの内容は先日のブログで、営業の大坂からもお話させていただきましたが、ASMS以降1年ぶりとなる海外の学会参加でした。口頭発表750件、ポスター発表600件、企業ブース150社と、規模の大きさを改めて実感した次第です。企業ブースでは日本企業が存在感を示していたこともあって、会場では日本人を多く見かけました。ブース訪問では意外と新規の引き合いもあり（本当にありがたいことです）、またASMSとは違った会場の雰囲気など、その場に行ってみて初めて分かったこと感じたことが沢山ありました。

学会でしか得られない貴重な経験を、今後の営業活動に活かしていきたいと思います。